O que é Microscopia Eletrônica de Varredura (SEM)

O que significa Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV)?

A microscopia eletrônica de varredura (MEV) é um tipo de microscópio eletrônico que produz imagens de um espécime ao escaneá-lo com um feixe focalizado de elétrons.

SEM fornece dados de superfície de alta resolução e maior contraste de materiais. Eles são amplamente utilizados em ciências de microscopia eletrônica e campos de aplicação:

  • nanotecnologia
  • análise de materiais
  • Análise de falha de semicondutor
  • Ciências da Vida
  • Garantia da Qualidade

SEM ambiental (ESEM) é especialmente útil para materiais não metálicos e biológicos porque o revestimento com carbono ou ouro é desnecessário. ESEM torna possível realizar microanálise de raios-X em amostras não condutoras não revestidas.

Industriapedia explica a microscopia eletrônica de varredura (MEV)

A microscopia eletrônica de varredura usa um feixe focalizado de elétrons de alta energia para produzir uma diversidade de sinais na superfície de amostras sólidas. Os sinais que derivam das interações elétron-amostra revelam informações sobre a amostra, incluindo:

  • Morfologia externa (textura)
  • Composição química
  • estrutura cristalina
  • Orientação de materiais

O feixe de elétrons geralmente é varrido em um padrão de varredura raster, e a posição do feixe é unida ao sinal detectado para produzir uma imagem. O SEM pode atingir uma resolução melhor que 1 nanômetro. As amostras podem ser percebidas em alto vácuo, em baixo vácuo e (em SEM ambiental) em condições úmidas.

As vantagens do SEM em relação aos microscópios tradicionais incluem:

  • Grande profundidade de campo - Isso permite que mais de um espécime esteja em foco ao mesmo tempo.
  • Resolução muito maior - As amostras podem ser ampliadas em níveis muito mais altos.
  • Microanálise - Microscópios avançados podem fornecer aos pesquisadores informações sobre sua composição.

Todas essas vantagens tornam o microscópio eletrônico de varredura um dos instrumentos mais úteis na pesquisa moderna.

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